태양광 패널 EL 테스터는 전자발광 이미징을 사용하여 광전지 모듈의 내부 결함을 검사하는 데 도움을 줍니다. EL 이미지는 육안으로 표면을 검사하는 동안 명확하지 않을 수 있는 셀 균열, 비활성 영역 또는 특정 상호 연결 문제와 관련된 패턴을 드러낼 수 있습니다. 적합한 시스템은 모듈 크기, 이미징 요구 사항, 작업 흐름 및 검사 절차에 따라 다릅니다.
세포 균열 패턴: EL 이미지는 추가 평가가 필요한 균열 관련 패턴을 드러낼 수 있습니다.
비활성 셀 영역: 이미징에서는 전기발광이 감소되거나 없는 영역을 보여줄 수 있습니다.
상호 연결 불규칙성: 특정 연결 관련 이상이 이미지에 나타날 수 있으며 후속 검사가 필요합니다.
공정 품질 검사: EL 테스트는 선택된 제조 단계에 적용될 수 있습니다.
최종 검사: 모듈이 포장 또는 배송되기 전에 품질 검토를 지원합니다.
문제 해결: 이미지 기록은 팀이 반복되는 결함을 조사하고 프로세스 변경 사항을 검토하는 데 도움이 됩니다.
모듈 치수: 지원되는 패널 크기와 고정 장치 또는 로딩 배열을 확인하십시오.
이미징 조건: 카메라 해상도, 조명 제어 요구 사항 및 이미지 처리 기능을 검토합니다.
작업 흐름 및 보고: 테스트 주기, 이미지 저장, 결과 검토 및 문서화 요구 사항을 확인합니다.
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